电子开关的失效分析技术 电子信息技术是当今新技术革命的核心,电子元器件是发展电子信息技术的基础。了解造成元器件失效的因素,以提高可靠性,是电子信息技术应用的必要保证。 开展电子元器件失效分析,需要采用一些先进的分析测试技术和仪器。 1 光学显微镜分析技术 2 红外分析技术 3 声学显微镜分析 4 液晶热点检测技术 5 光辐射显微分析技术 6 微分析技术
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